詳細摘要： 可控硅測試儀（又名：全系列塑封可控硅、可控硅光耦測試儀），可以較準確的測量大小功率可控硅（晶閘管）和模塊的觸發(fā)電流IGT、觸發(fā)電壓VGT、斷態(tài)不重復峰值電壓VD...

詳細摘要： 晶閘管參數(shù)測試系統(tǒng)采用指針式儀表和全手動操作，此方法讀數(shù)慢而且不夠準確，操作也比較繁瑣，不能適應目前自動化、大規(guī)模的生產(chǎn)方式。我們研制的晶閘管參數(shù)測試系統(tǒng)采用主...

詳細摘要： 本儀器設計*，操作簡便，采用數(shù)字表顯示測試結果，具有精度高，重復性好，對被測器件自動保護等特點。其測試原理符合GB4024-83標準的規(guī)定，是電力半導體器件生產(chǎn)...

詳細摘要： 由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現(xiàn)對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及...